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产品描述
仪器介绍：
自动位移透过率检测仪是一套专门为检测光学组件透过率而设计开发的，实现自动位移快速准确检测各类平面器件的透过率。目前越来越多的光学元件对透过率的要求越来越高，部分元件在加工过程中甚至要全检透过率来控制产品品质，本仪器填补了国内大尺寸产品透过率测量仪器的空缺。
仪器特点：
1、整机一体化人机工程设计，方便操作测量。
2、采用准直检测光路，采样面积( p2-10mm ).
3、采用定制大理石平台、伺服控制，标配高精度光栅尺，定位精度高（1微米），速度快，运行平稳。
4、测量面积大，适用于玻璃尺寸小于200*200mm透过率的检测（平面度p30um ) .
5.可根据客户不同的需求，自行设定多个检测的具体位置，一键进行自动连续测量，自动记录、自动判断，方便快捷，大幅提高检测效率，减少人为操作带来的误差。
6.CIE颜色测定XY色度图，x .y . La,b饱和度。
7.强大的数据管理功能，轻松实现数据分析、存储、调用、打印等功能。
适用范围：
针对检测光学测量面积大组件透过率而设计开发的，实现自动位移快速准确检测各类平面器件的透过率各类平面光学元件进行透射0-45度间的任意角度的自动化设备
关键字:
BCSP-XT平面自动位移透过率检测仪
类别:
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