产品详细介绍
参数
产品特点:
仪器介绍:
全自动位移透过率检测仪是一套专门为检测光学组件透过率而设计开发的,实现自动位移快速准确检测各类平面器件的透过率。
目前越来越多的光学元件对透过率的要求越来越高,部分元件在加工过程中甚至要全检透过率来控制产品品质,本仪器填补了国内大尺寸产品透过率测量仪器的空缺。
全自动位移透过率检测仪是一套专门为检测光学组件透过率而设计开发的,实现自动位移快速准确检测各类平面器件的透过率。
目前越来越多的光学元件对透过率的要求越来越高,部分元件在加工过程中甚至要全检透过率来控制产品品质,本仪器填补了国内大尺寸产品透过率测量仪器的空缺。
产品特点:
1. 自动测定平面器件透光率
可实现自动位移,对380至1100nm波长范围的透光率进行快速准确的检测。此外,波长范围可根据客户需求定制。
2. 测量精度高速度快运行平稳
采用定制大理石平台、伺服控制,标配高精度光栅尺,定位精度高(1微米),速度快,运行平稳。
3. 实现大面积区域透过率测量
测量面积大,适用于玻璃尺寸小于200*200mm透过率的检测(平面度φ30um)
4. 颜色测量功能
可设定规格并自动判断
5. 软件界面简洁易操作
软件界面布局简洁,操作简单方便;一键式多点测量,快速方便,减少人为误差,大幅提高测量效率。
6. 多种测量路径规划
手动取点、正方形转换、十字形转换、圆形转换,规划简单快捷,提高操作效率。(在测量范围内200*200mm可根据客户需求规划多个任意点来进行测量)。
7. 可设定各种复杂规格
实现自动判断及显示PASS/FAIL
8. 光谱数据分析功能
可选择不同的测量曲线进行加、减等算术分析操作,具有针对每条曲线进行波峰、波谷的检测、折射率计算、单层膜层厚度计算等功能,方便各种测量所需
9. 数据存储及数据管理功能
10. 光谱仪校准功能
1. 自动测定平面器件透光率
可实现自动位移,对380至1100nm波长范围的透光率进行快速准确的检测。此外,波长范围可根据客户需求定制。
2. 测量精度高速度快运行平稳
采用定制大理石平台、伺服控制,标配高精度光栅尺,定位精度高(1微米),速度快,运行平稳。
3. 实现大面积区域透过率测量
测量面积大,适用于玻璃尺寸小于200*200mm透过率的检测(平面度φ30um)
4. 颜色测量功能
可设定规格并自动判断
5. 软件界面简洁易操作
软件界面布局简洁,操作简单方便;一键式多点测量,快速方便,减少人为误差,大幅提高测量效率。
6. 多种测量路径规划
手动取点、正方形转换、十字形转换、圆形转换,规划简单快捷,提高操作效率。(在测量范围内200*200mm可根据客户需求规划多个任意点来进行测量)。
7. 可设定各种复杂规格
实现自动判断及显示PASS/FAIL
8. 光谱数据分析功能
可选择不同的测量曲线进行加、减等算术分析操作,具有针对每条曲线进行波峰、波谷的检测、折射率计算、单层膜层厚度计算等功能,方便各种测量所需
9. 数据存储及数据管理功能
10. 光谱仪校准功能
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